整合 TITAN? 探針技術(shù)與晶圓級(jí)測(cè)量專長(zhǎng)，開(kāi)啟新一代半導(dǎo)體與次太赫茲應(yīng)用精密測(cè)試新篇章

新竹2025年9月15日 /美通社/ -- 全球領(lǐng)先的先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試解決方案廠商旺矽科技股份有限公司（MPI Corporation，以下簡(jiǎn)稱“旺矽科技”）宣布，正式推出可支持是德科技（Keysight Technologies，以下簡(jiǎn)稱“是德科技”）全新 NA5305A/7A PNA-X 頻率擴(kuò)頻器的全集成 250 GHz 寬帶測(cè)試解決方案。該方案結(jié)合旺矽在次太赫茲探測(cè)技術(shù)與晶圓級(jí)測(cè)量領(lǐng)域的深厚經(jīng)驗(yàn)，搭配 TITAN? 射頻探針及探針臺(tái)平臺(tái)，提供業(yè)界領(lǐng)先的高達(dá) 250 GHz 寬帶 S 參數(shù)測(cè)試能力。

這一最新里程碑凝聚了旺矽科技在高頻測(cè)試領(lǐng)域的深厚技術(shù)積累，包括早期突破 200 GHz 寬帶探針測(cè)試極限的解決方案。同時(shí)，這也彰顯了與是德科技的深度合作，通過(guò)將業(yè)界領(lǐng)先的測(cè)試儀器與旺矽先進(jìn)的晶圓級(jí)測(cè)試方案相結(jié)合，以滿足快速增長(zhǎng)的次太赫茲測(cè)試需求。

旺矽科技先進(jìn)半導(dǎo)體測(cè)試（AST）事業(yè)部總經(jīng)理 Stojan Kanev 表示：
“旺矽是首家實(shí)現(xiàn)高達(dá) 250 GHz 實(shí)時(shí)單次掃描校準(zhǔn)，并支持單端/差分晶圓級(jí)測(cè)試的企業(yè)。這一成就建立在我們?cè)?200 GHz 以上寬帶晶圓特性表征領(lǐng)域多年驗(yàn)證的解決方案與卓越業(yè)績(jī)之上。全新的 250 GHz 解決方案結(jié)合 TITAN? 探針技術(shù)與系統(tǒng)集成優(yōu)勢(shì)，能夠提供穩(wěn)定可重復(fù)的測(cè)試結(jié)果、清晰的探針尖端可見(jiàn)性，以及確保安全簡(jiǎn)便操作的保護(hù)設(shè)計(jì)，幫助工程師節(jié)省時(shí)間、保護(hù)系統(tǒng)并實(shí)現(xiàn)最佳性能?！?/p>

專為次太赫茲精度打造
該250 GHz解決方案包括旺矽科技TITAN?單端式T250MAK與差分式T250MSK探針，采用全新 0.5 毫米寬帶同軸接口，分別針對(duì)寬帶器件表征與高速差分測(cè)試而設(shè)計(jì)。探針具備以下特點(diǎn)：

• 在全頻段范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)超低插入損耗與優(yōu)異回波損耗
• 獨(dú)特的針尖可視設(shè)計(jì)與卓越機(jī)械穩(wěn)定性，確保精準(zhǔn)對(duì)位、接觸可靠與數(shù)據(jù)一致
• 伸縮式探針尖端保護(hù)裝置設(shè)計(jì)，保障操作安全
• 提供單端（GSG）與差分（GSGSG）配置，優(yōu)化適配不同器件需求

TITAN? T250系列探針可與旺矽科技全系列探針臺(tái)平臺(tái)完美集成，支持溫控晶圓級(jí)測(cè)量，最大程度減少人工操作，確保系統(tǒng)的最佳重復(fù)性。

是德科技觀點(diǎn)
是德科技產(chǎn)品經(jīng)理 David Tanaka 表示：“旺矽科技在高頻晶圓探針技術(shù)的持續(xù)創(chuàng)新，對(duì)擴(kuò)展我們寬帶矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀平臺(tái)的測(cè)試能力至關(guān)重要。他們的 TITAN? 探針提供了實(shí)現(xiàn)我們 250 GHz 解決方案所需的精度、重復(fù)性和系統(tǒng)級(jí)集成能力。本次合作將有助于我們因應(yīng)日益增長(zhǎng)的次太赫茲先進(jìn)測(cè)試需求?！?/b>