加州山景城2019年8月7日 /美通社/ --

重點：

• 三星與新思科技的合作實現(xiàn)了10/8/7納米產(chǎn)品的快速量產(chǎn)，并為5/4/3納米技術(shù)節(jié)點的良率奠定了基礎(chǔ)
• 安全的解決方案確保三星及其無晶圓廠用戶的設(shè)計和晶圓廠信息機密性的同時，共同確定系統(tǒng)性的良率限制因素
• Yield Explorer平臺使用產(chǎn)品設(shè)計、晶圓廠和測試數(shù)據(jù)，以及強大的數(shù)據(jù)挖掘和可視化技術(shù)，快速準確地識別出導(dǎo)致良率損失的主要原因

新思科技 （Synopsys, Inc.，納斯達克股票代碼：SNPS）近日宣布成功在三星先進FinFET技術(shù)節(jié)點上部署新思科技Yield Explorer®良率學(xué)習(xí)平臺，用于加速新產(chǎn)品的量產(chǎn)。使用Yield Explorer中的安全數(shù)據(jù)交換機制，三星能夠與用戶共享用于良率分析的數(shù)據(jù)，如芯片設(shè)計、晶圓廠和測試的數(shù)據(jù)，同時維護各方專有信息的機密性。

三星電子(Samsung Electronics)代工廠設(shè)計技術(shù)團隊副總裁JY Choi表示：“用戶希望我們提供快速、低成本的制造技術(shù)，以便讓他們的產(chǎn)品滿足苛刻的市場需求。使用了Yield Explorer的安全協(xié)作模式可極大地幫助我們建立與關(guān)鍵用戶的有效合作，以快速實現(xiàn)目標(biāo)生產(chǎn)良率。我們期待在加速5納米技術(shù)節(jié)點產(chǎn)品量產(chǎn)的過程中，擴大與新思科技的合作?！?/p>

新思科技半導(dǎo)體事業(yè)部全球總經(jīng)理Howard Ko表示：“良率分析是一項復(fù)雜的任務(wù)，需要來自不同組織的團隊之間的協(xié)作。確定良率限制因素的速度和準確性對于實現(xiàn)高成本效益、高產(chǎn)量生產(chǎn)至關(guān)重要。我們很高興與三星合作部署Yield Explorer，促進其與用戶的合作，并加速新產(chǎn)品量產(chǎn)。”

新思科技Yield Explorer是一個綜合的良率學(xué)習(xí)平臺，產(chǎn)品和良率工程團隊使用來自不同來源的數(shù)據(jù)進行根本原因分析。這些來源包括：

• 產(chǎn)品設(shè)計數(shù)據(jù)：布局、網(wǎng)表、測試診斷、靜態(tài)時序分析
• 晶圓廠數(shù)據(jù)：檢驗、計量、晶圓允收測試(WAT)
• 產(chǎn)品測試數(shù)據(jù)：Bin、參數(shù)化、系統(tǒng)級測試

Yield Explorer中強大的分析引擎使用先進的機器學(xué)習(xí)和數(shù)據(jù)可視化技術(shù)，以快速的周轉(zhuǎn)時間交付高質(zhì)量的結(jié)果。